C01超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡
Ultra-High Resolution Filed Emission SEM
装置仕様 | |
像分解能 | 1.0nm@15kV 1.4nm@1kV |
取得可能像 | 二次電子像、組成像、透過像、透過暗視野像 |
試料サイズ | Max100mmΦ,高さ30mm以下 |
観察領域 | 試料中心より±25mm(X,Y) |
データ記録 | DVDマルチドライブ |
設置場所 |
総合研究10号館 加工・評価室 |
装置利用料金 |
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