| 日付 |
カテゴリー |
タイトル |
| 2024年02月09日 |
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光⼲渉膜厚計
Thickness Measurement Instruments |
| 2023年03月01日 |
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ウエハプロファイラ
Optical Wafer Profiler |
| 2023年03月01日 |
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触針式段差計
Stylus Profilometer |
| 2019年09月25日 |
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接触式シート抵抗測定器
4 Point Probe Sheet Resistance Measurement System |
| 2019年01月15日 |
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超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡
Ultra-High Resolution Filed Emission SEM |
| 2019年01月15日 |
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分析走査電子顕微鏡
Analytical Variable-Pressure Field Emission SEM |
| 2019年01月15日 |
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高速液中原子間力顕微鏡
Liquid-Environment High Speed AFM |
| 2019年01月15日 |
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走査型プローブ顕微鏡システム
Bioscience Atomic Force Microscope |
| 2019年01月15日 |
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共焦点レーザー走査型顕微鏡
Confocal Laser Scanning Microscope |
| 2019年01月15日 |
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3D測定レーザー顕微鏡
3D Measuring Laser Microscope |
| 2019年01月15日 |
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全反射励起蛍光イメージングシステム
Total Internal Reflection Fluorescence Microscope |
| 2019年01月15日 |
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長時間撮影蛍光イメージングシステム
Time-Lapse Fluorescence Microscope |
| 2019年01月15日 |
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X線回折装置
Intelligent X-Ray Diffractometer |
| 2019年01月15日 |
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分光エリプソメーター
Spectral Ellipsometer |
| 2019年01月15日 |
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光ピンセットシステム
Optical Tweezers & 3D Trapping System |
| 2019年01月15日 |
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ゼータ電位・粒径測定システム
Zeta Potential & Particle Size Analyzer |
| 2019年01月15日 |
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ダイナミック光散乱光度計
Dynamic Light Scattering Spectrophotometer |
| 2019年01月15日 |
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マイクロシステム アナライザ
Micro System Analyzer |
| 2019年01月15日 |
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プローバ
Prober |
| 2019年01月15日 |
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真空プローバ
Vacuum Probe System |
